被测元件 | 测试项目 | 正常数值 | 测试结果 | 故障判断 | 备注 |
电阻 | 电阻值 | 标称值+误差 | ∞或很大 | 开路(引线松脱,膜层脱落,烧断等) | 测量时要避免人为地误差;量称与标称值要相当 |
0或很小 | 短路 |
阻值不稳 | 引线接触不良 |
热敏压敏电阻 | 电阻值及变化规律 | 标称值+误差 | 很大或∞ | 开路(断线、烧坏) | 测量用的电流、电压值要选择适当 |
0或很小 | 短路 |
阻值不稳 | 引线接触不良 |
变化规律不正常或不变化 | 性能不良或损坏 |
电 位
器
| 电阻值及变化量 | 标称值阻值变化应均匀(或与其类型相应) | ∞或很大 | 开路(一端或中间炭膜损坏) | 测试时应均匀转动轴柄,要注意电位器是对数式还是直线式 |
0或很小 | 短路 |
阻值不稳 | 动片接触不良 |
有突变现象 | 局部损坏 |
最小阻值不够小 | 部分炭膜失损 |
电 感
| 通断检查 | 近似短路 | ∞或很大 | 断线 | |
0(与外壳电阻) | 线圈与外壳短路 |
测量电压 | 两端直流电压近似相等 | 电压差很大 | 断线 |
各端对地电压均为零 | 线圈与外壳短路 |
大电感 | 电阻值 | 标称的直流电阻 | 很小 | 击穿或局部短路 | 通过检查有无过热现象来判断有无局部短路 |
∞ | 断线 |
电感量 | 正常值 | 较小 | 匝间局部短路 |
陶瓷、云母、玻璃釉、金属膜电容器 | 电阻值 | | 0 | 击穿 | 最好用数字式电容表测量电容量 |
很小 | 漏电 |
两端电压 | 被测电路中两端电位差 | 0 | 击穿 |
不稳定 | 漏电 |
估测电容量 | 近似于标称值 | 0 | 短路 |
很大(表针不摆动) | 开路 |
电 解
电
容
器
| 电阻值(充放电检查) | 有明显的充放电现象,且稳定阻值较大 | 充电不明显或无充电现象 | 容量下降或消失 | 充放电现象随容量大小而变化,电容量大时,充电电流大,放电速度慢;电容量小时,充电电流小,放电速度快 |
稳定电阻较小 | 漏电 |
电阻为零 | 击穿 |
电阻为无穷大 | 断线 |
检查电容量 | 近似于标称值 | 很小 | 容量下降或消失 |
很大 | 击穿 |
PNP型三极管 | B-E和B-C结电阻 | 正向电阻为数十欧姆;反向电阻为数十千欧姆 | 正向电阻 | 0 | PN结击穿 | 正向电阻用R×10Ω挡测;反向电阻用R×1kΩ挡测 |
∞ | PN结断线 |
反向电阻 | 较小 | 漏电 |
∞ | 断线 |
CE结正反向电阻 | 均为数十千欧姆 | 0 | 击穿 |
很小 | 损坏 |
∞ | 断线 |
二极管(含稳压二极管) | 正反向电阻 | 锗管:正向电阻为数十欧姆;反向电阻为数千欧姆 | 正向电阻 | 0 | PN结击穿短路 | 正向电阻用R×10Ω挡测;反向电阻用R×1kΩ挡测。整流二极管还可根据发热情况来判断:若某管有过热现象或与室温相等,则说明该管性能不好或已损坏。注意:小功率二极管不能用大电流档测量,以免损伤
|
很大或∞ | PN结 |
反向电阻 | 较小 | PN结漏电 |
硅管:正向电阻为数十至数百欧姆;反向电阻为数十至数千欧姆 | ∞ | PN结断线 |
正反向电阻比 | ∞ | 内部断线 |
0 | PN结击穿或短路 |
1 | 已损坏 |
稳定电压Vz值 | 标称值 | 很大 | 已击穿 |
很大 | 已开路 |
NPN型三极管 | B-E和B-C结电阻 | 正向电阻为数十至数百千欧姆;反向电阻为数十至数百千欧姆 | 正向电阻 | 0 | PN结击穿 | 正向电阻用R×10Ω挡测;反向电阻用R×1kΩ挡测 |
∞ | PN结断线 |
反向电阻 | 较小 | 漏电 |
∞ | 断线 |
CE结正反向电阻 | 均为数十千至数百千欧姆 | 0 | 击穿 |
很小 | 损坏 |
∞ | 断线 |